相控陣檢測是無損檢測技術(shù)之一。今天，我們主要介紹相控陣檢測的擴(kuò)展部分——相控陣天線陣。相控陣天線的設(shè)計主要是幅度、相位分布和陣元阻抗。陣列大小由最窄波束寬度的寬度和旁瓣電平?jīng)Q定。相位分布主要取決于束流要求。由于陣元方向圖和阻抗的限制，平面相控陣的最大掃描范圍通常為 ± 60 ° ，為了獲得半球形掃描，需要增加一個球面透鏡，如果只要求掃描方向圖的最大值在空間上移動(掃描) ，則只需要線性相位分布。圖案的最大方向垂直于等相面。

       使用數(shù)字移相器時，除少數(shù)特殊角度外，無法得到精確的線性相位分布。此時，寄生副瓣會在圖形的某些方向上出現(xiàn)，其大小與特定的相位分布有關(guān)。為了滿足這一特殊要求，需要采用方向圖綜合法預(yù)先計算所需的陣列相位分布。例如，將陣列劃分為若干個區(qū)域，每個區(qū)域可視為一個獨(dú)立的陣列來設(shè)計陣列的方向圖。

       為了簡化饋電結(jié)構(gòu)，一些相控陣天線具有相等的幅度。為了克服高旁瓣電平在等幅分布情況下的缺點(diǎn)，可采用密度加權(quán)法，即有源輻射單元在陣列上的分布不均勻，分布密度按一定規(guī)律變化。為了改善輻射單元的阻抗特性，在有源輻射單元的邊緣放置一個無饋電的被動輻射單元，相控陣天線的輻射單元數(shù)目較多。當(dāng)故障單元數(shù)小于5% 時，天線陣列的性能不受影響，可靠性高，相控陣天線在雷達(dá)中使用時，波束控制的靈活性大大提高，可以制成多功能雷達(dá)，使一臺雷達(dá)發(fā)揮多臺常規(guī)雷達(dá)的作用。

        隨著微波集成電路技術(shù)的發(fā)展和新型移相器的出現(xiàn)，相控陣天線的成本不斷降低，體積越來越小，重量也進(jìn)一步降低。